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                    • 荧光X线膜厚计
                    • 编号:
                    • 类别:膜厚测试
                    • 点击:816
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                    产品介绍

                    特点:
                    1.测量解析度:0.001um
                    2.可测量单层膜厚、双层膜厚、锡铅厚度及组成比例分析。
                    3.最小测量面积0.1mm0/
                    4.藉由光谱分析可判定被测物之元素
                    5.采用中文视察软件,测定报告的截取,非常简便。

                    6.适用行业:电子业、pcb业、电镀业、机械五金、精密工业



                    Features:
                    1.Measurement Resolution:0.001um.
                    2.measurable single-layer thickness ,double thickness,tin-lead thickness and composition of analysis.
                    3.Smallest area measuring 0.1mmo/
                    4.Measured by spectral analysis to determine the elements of 
                    5.The use of Chinese software inspections,the report of the capture,very simple.
                    6.Applicable industries:electronics,PCB industry,electroplating industry,mechanical hardware and precision industries.

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